光澤度儀作為光學(xué)儀器，主要用于測量平面物體表面的物理量光澤度，其在測量光澤度時，可以根據(jù)不同的需求選擇不同的測量模式，一般來說有三種測量模式：基本模式、統(tǒng)計模式和連續(xù)模式。那么，光澤度儀的測量模式怎么選？本文對光澤度儀測量模式及測量模式的選擇方法做了簡要的介紹。

光澤度儀測量模式及選擇方法：

光澤度儀主要有三種測量模式，分別是“基本模式”、“統(tǒng)計模式”、“連續(xù)模式”，具體如下：

1.基本模式

這也是最簡單的樣品測量模式，屬于單次測量模式，即我們每測一次數(shù)據(jù)會保存一條記錄。但是這種模式下測量的記錄，是可以作為“統(tǒng)計模式”測量的標準的，而且同時可以顯示5組測量數(shù)據(jù)。

雖然是基本模式，可以每測一次得到一次的數(shù)據(jù)，但三恩時光澤度儀的基本模式，還附帶有平均測量功能的，至于如何設(shè)置基本模式下的平均測量，可以根據(jù)使用說明進行設(shè)置。

2.統(tǒng)計模式

根據(jù)字面意思是指具有統(tǒng)計評估功能的測量模式，這種模式能對單個樣品進行多次測量，測量值有平均值、最大值、最小值、標準偏差、差值等，其作用類似統(tǒng)計學(xué)上將樣品多次取樣做多種數(shù)據(jù)分析的測量模式。當我們在儀器上將差值開關(guān)打開后，還能與標樣進行比對得出結(jié)論，能夠更好的幫助我們改善工藝，提高產(chǎn)品質(zhì)量。如果你想知道一批小樣的外觀光澤質(zhì)量，箱通過數(shù)據(jù)來控制工藝和配方，也可以通過這個模式找到一些方向性的幫助。

3.連續(xù)模式

這種模式下，我們可以連續(xù)測量的次數(shù)最多可設(shè)置99次，且我們可以設(shè)置每次測量間隔的時間，當按測量鍵開始測量時，儀器會根據(jù)設(shè)置好間隔時間自動對樣品進行測量，當達到設(shè)置的次數(shù)即可停止測量。提示：在測量過程中，連續(xù)在極短時間內(nèi)再次按測量鍵，可選擇暫停或結(jié)束本次測量。該測量模式主要用于大面積樣品，評價樣品外觀光澤度的均勻性。

光澤度儀測量模式設(shè)置方法：

光澤度儀測量模式參數(shù)是指儀器在某一種模式下進行工作測量時，為了更好的測量，而需要對這種模式下進行的一些參數(shù)設(shè)置。光澤度儀通常有基本模式、統(tǒng)計模式和連續(xù)模式三種測量模式，每一種模式下的參數(shù)設(shè)置都是不同的。具體情況如下：

1.基本模式參數(shù)設(shè)置

平均測量功能是基本模式測量的一個附加功能，點擊“基本模式平均測量進入平均測量次數(shù)設(shè)置界面，可設(shè)置0-99次測量。當平均次數(shù)設(shè)置小于或等于1時，就是基本模式測量，每測量一次作為--條基本記錄的結(jié)果。當平均次數(shù)設(shè)置大于1時，比如設(shè)置為9，則每測量9次的平均值作為一條基本記錄的結(jié)果，每次測完9次后取這9次的平均值,作為一條基本測量記錄保存?；灸Ｊ狡骄鶞y量的更改測量角度、編輯名稱、刪除記錄等都與基本模式測量一樣操作，基本模式平均測量的測量記錄也保存在基本記錄庫里。

2.統(tǒng)計模式參數(shù)設(shè)置

下面有以下幾個子菜單

測量次數(shù)：可以設(shè)置1-99次測量；

差值開關(guān)：即打開標樣平均值與試樣平均值的相差值，并且會給出判定是否合格的提示；

選擇標準：統(tǒng)計測量的標準，默認是基本記錄的最后一條數(shù)據(jù)，如果不想以這條數(shù)據(jù)作為標準，可以另外設(shè)置；

輸入標準：如果我們有設(shè)計好產(chǎn)品外觀數(shù)據(jù)，可以將其輸入儀器內(nèi)，作為標樣數(shù)據(jù)標準。

3.連續(xù)模式參數(shù)設(shè)置

測量次數(shù)：設(shè)置連續(xù)模式的測量次數(shù)，用于控制自動測量的次數(shù)，當測量達到設(shè)置時，連續(xù)自動測量會停止。

間隔時間：設(shè)置下一次自動測量的相差時間，可以更好的控制自動測量，其單位是秒s。

通常，我們在選擇測量模式之前，需要根據(jù)我們使用光澤度儀的情況，自行設(shè)置好各種模式下的參數(shù)。通過事先設(shè)置好后，后續(xù)我們在使用時，能夠更快更滿足自己的需求進行測量。

光澤度儀測量模式參數(shù)，主要是針對儀器各種模式下的測量，以更好的控制測量的一個過程參數(shù)。這個參數(shù)只影響當前模式下的測量，屬于一個局部設(shè)置的參數(shù)。相對于儀器的角度測量、容差設(shè)置，這兩種設(shè)置則為光澤度儀儀器的全局設(shè)置，是對所有測量模式都有效的參數(shù)設(shè)置。